Kontaktujte nás: Tel. +420 381 412 011 www.micro-epsilon.cz Měřicí rozsah 40 mm Submikronové rozlišení až 10 nanometrů Linearita ≤ 1 µm Expoziční čas 8,5 µs Kompenzace náklonu objektu pro nezkreslená měření v reálném čase Měření úhlu sklonu objektu v ose XY Šest přednastavených programů pro nejběžnější úlohy Černobílý obraz pro pohodlné pozicování objektu v paprsku Konfigurovatelné přes webové rozhraní optoCONTROL 2700 Výkonný mikrometr pro náročné měřicí úlohy NOVÉ Kontrola průměru drátu během navíjení Inline měření kontur soustružených dílů Měření mezery mezi kalandrovacími válci
RkJQdWJsaXNoZXIy Mjk3NzY=