A-Z ELEKTRO březen / duben 2024

MĚŘENÍ březen/duben 2024 | A-Z ELEKTRO | 69 MICRO-EPSILON Czech Republic Tel.: +420 381 213 011 E-mail: info@micro-epsilon.cz www.micro-epsilon.cz/ dráhy elektromechanického lineárního posuvu až na 600 mm, což dává možnosti většího traversního měření. Jednotka automatické kalibrace nyní kompenzuje i teplotní vlivy na systém a SW je plně kompatibilní s dotykovým panelem IPC, který je nyní součástí dodávky. Verze thicknessGAUGE C.LL nahrazuje bodový laserový snímač optoNCDT 1420 snímačem 1900 LL. Díky tomu systém nabídne jak větší měřicí rozsah, tak i přesnost. Použitím laserové linky namísto bodu bude měření stabilnější na strukturovaných površích. Senzorový systém thicknessGAUGE C.C s konfokálními sondami je nejpřesnější systém pro měření tloušťky v této řadě. Měří s přesností 0,4 µm a frekvencí až 10 kHz. Nově byl konfokální kontrolér IFC2422 nahrazen výkonnějším IFC2466 a sondy IFS2402-2 byly nahrazeny IFS2406-2.5. Tato úprava lehce prodloužila měřicí rozsah, zvýšila se měřicí rychlost systému a má i větší světelnou intenzitu. Větší měřicí bod lépe kompenzuje drsnější povrchy. Tato sestava se hodí i na náročné měření, jakým je zjištění rozdílu mezi středovou a okrajovou tloušťkou materiálu. Systém thicknessGAUGE C.LP se hodí zejména při měření tloušťky plátů a pásů, které nejsou umístěné kolmo k snímačům či jsou perforované nebo mají na sobě reliéf. Umožňuje v rámci profilu (laserové čáry) zprůměrovat tloušťku měřené části plátu. Dosud používaný skener LLT2900-10 je nahrazen skenerem vyšší řady LLT3002-25. Tím získáme větší měřicí rozsah 15 mm a přesnost ±1,2 µm. Modrá dioda zůstává jako volitelná úprava i pro vyšší řadu skenerů. V nabídce je i thicknessGAUGE ve formě O rámu. Měřit tak lze tloušťku plastových fólií a gumových pásů na válci. Katalogové tloušťkoměry thicknessGAUGE O.EC jsou vybaveny senzorem combiSENSOR KSS6430. Tento snímač kombinuje kapacitní měření s měřením vířivých proudů, kdy vzdálenost k vodivému válci je odměřena vířivými proudy skrz například fólii a vzdálenost k povrchu fólie je určena kapacitním snímačem za pomoci dielektrické konstanty. Pro ještě přesnější systémy thicknessCONTROL a další informace o měření tloušťky neváhejte kontaktovat zastoupení firmy Micro-Epsilon.

RkJQdWJsaXNoZXIy Mjk3NzY=