MĚŘENÍ listopad/prosinec 2023 | A-Z ELEKTRO | 65 MICRO-EPSILON Czech Republic Tel.: +420 381 213 011 E-mail: info@micro-epsilon.cz www.micro-epsilon.cz/ 3D model, který lze nově vyhodnocovat v SW 3D Inspect skenery řady 30xx. Měření rozměrů na 3D snímku má výhodu v možnosti nastavit více měřicích úloh najednou v konkrétních částech obrazu. Porovnávat tak lze i celkový tvar měřeného objektu. Nevýhoda je pomalejší zpracování (nejdříve se musí sejmout obraz, a až poté lze vyhodnocovat). Nejnovější verze 3D Inspectu již zvládne vyhodnocovat obraz a zároveň snímat nový. Vyladěná optická metoda měření Skenery mají rozlišení až 1,5 µm, pokud se měří z nejbližší možné vzdálenosti v čistém prostředí při pokojové teplotě, a to co nejvíc kolmo k povrchu se skenerem natočeným tak, aby nedocházelo k zastínění odrazu (triangulace). Protože průmyslové prostředí málokdy dovoluje takto ideální měření, nabízí se kombinace vhodného příslušenství, HW úprav skeneru a SW filtrování pro co nejlepší a nejpřesnější profil. Řešení problémů z praxe Typickým problémem je vysoká prašnost, která způsobuje falešné odrazy. Pro její snížení je v portfoliu kryt skeneru s možností připojení vzduchového ofuku. Dalším v praxi běžným problémem jsou odlesky vznikající při měření lesklých kovových předmětů. Pomocí průměrování, nastavením vhodných měřicích funkcí a oblastí zájmu lze tyto odlesky spolehlivě odfiltrovat, ale za cenu ztráty bodů a možného zkreslení měření. Poslední aktualizace přináší funkci porovnání hodnot před filtrací a po filtraci, která pomáhá toto zkreslení eliminovat. Je vhodné odleskům předcházet, a to lze částečně použitím modrého laseru a částečně nastavením co nejkratší expoziční doby. Opačný problém nastává při měření tmavých objektů, kdy se mohla použít pouze verze s výkonnějším laserem a spokojit se s delší expoziční dobou, měření tak bylo pomalejší. To se mění díky novince v podobě možnosti nastavit citlivost. Vyšší citlivost při krátké expozici Při měření tmavých objektů je nyní možné při nastavení vyšší citlivosti dosáhnout stejných výsledků jako při delší expoziční době. Tam, kde bylo dřív třeba 750 µs expoziční doby, se nyní dosahuje stejných výsledků při nastavení maximální citlivosti za 150 µs, a to při použití standardní třídy laseru (laser class 2). Může tak odpadnout i nutnost použít silnější třídu laseru, kde jsou již značná bezpečnostní omezení pro obsluhu. Tato novinka je dostupná pro všechny skenery řady 30xx, a to i pro již zakoupené skenery, a může se tak vylepšit, zpřesnit a zrychlit aktuální měření a dříve obtížně měřitelné úlohy se mohou stát spolehlivě měřitelnými. Výstupy ze skeneru Pro lepší aplikování skenerů v praxi a jejich integraci nabízíme nejrůznější jednotky, jež k standardním výstupům skeneru (Ethernetovému a RS422) přidávají analogový signál a PROFINET, EthernCAT či Ethernet IP. V nabídce máme nově i průmyslová PC či PLC. Profilové skenery se těší vzrůstající oblibě i mezi integrátory pracujícími s kamerami a Vision softwary, kdy skener doplňuje kameru. Velmi tomu napomáhá i podpora standardu GigE Vision (GeniCam) a poskytnutí SDK (software development kit) pro programátory, a to ve verzi jak pro 2D, tak pro 3D. Poslední aktualizace rozšiřuje podporované GigE Vision formáty například o Coord3D. Kontaktujte výrobce Uživatelé, kteří chtějí získat bezplatné vylepšení svých již zakoupených skenerů nebo konzultovat nové měřicí úlohy, mohou kontaktovat technickou podporu či obchodního zástupce společnosti Micro-Epsilon.
RkJQdWJsaXNoZXIy Mjk3NzY=