A-Z ELEKTRO červenec / srpen 2019
VĚDA A VÝZKUM červenec/srpen 2019 | A-Z ELEKTRO | 103 Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů Šlechtitelů 27 783 71 Olomouc Tel.: (+420) 585 634 973 Email: rcptm@upol.cz www.rcptm.com Facebook: https://www.facebook.com/rcptmcz Foto: RCPTM Z ařízení umožní kromě zobrazení struktur v mikro- a nano- rozmě- rech především „obrábění“ vzorků v nano-měřítku. Metoda dovoluje získá- vat informace nejen o povrchu materi- álů (2D zobrazení), ale i konkrétních hloubkových (3D) profilech. Pomocí SEM/FIB lze vytvářet ze vzorků, které vzhledem k jejich tloušťce nelze pri- márně analyzovat transmisní elek- tronovou mikroskopií (TEM, HRTEM), tzv. lamely, jež jsou pro TEM zobrazení a analýzu vhodné a současně je zcela zachována oblast vzorku pro poža- dovanou informaci. „Cílem přípravy těchto lamel je nahlédnout do nitra studovaných materiálů a zobrazit tak jejich vnitřní strukturu. Kombinace SEM/FIB umožní přesnou lokalizaci požadovaného studovaného místa či oblasti, ze které má být daná lamela vyrobena,“ objasnil Štěpán Kment z výzkumné skupiny Fotoelektrochemie RCPTM. Velkou část výzkumných aktivit RCPTM představuje vývoj nových materiálů, často ve formě složitých hybridních nanostrukturovaných sys- témů. Požadované funkční vlastnosti těchto pokročilých systémů obvykle přímo souvisejí s lokalizovanými jevy a interakcemi (např. struktura rozhraní mezi vrstvami, hranice he- terogenních krystalických zrn, forma navázání a interakce nanočástic). Strukturní a do jisté míry i chemic- kou povahu těchto lokalizovaných jevů lze studovat metodami TEM a zejména HRTEM. „Ačkoliv naše vědecké centrum má k dispozici špičkové TEM a HRTEM mikroskopy, vzhledem k výše uvede- ným požadavkům na velikost analy- zovaného vzorku nebylo v minulosti možné pozorovat vnitřní strukturu materiálů na takto vysoké úrovni. Nový SEM/FIB systém bude tento Nový mikroskop posouvá RCPTM mezi světovou špičku Lepší a rychlejší přípravu a analýzu vzorků umožní nový skenovací elektronový mikroskop (SEM) kombinovaný s fokusovaným iontovým svazkem (FIB), který nedávno rozšířil „přístrojový park“ Regionálního centra pokročilých technologií a materiálů (RCPTM) Univerzity Palackého v Olomouci. Vědci díky němu budou moci studovat na vysoké úrovni jevy, které v minulosti nemohli probádat, přestože vědecké centrum disponuje špičkovými TEM a HRTEM mikroskopy. Ve spojení s dosud využívanými technikami tak nový přístroj z instrumentálního hlediska posouvá RCPTM mezi nejprestižnější světová vědecká pracoviště. nedostatek zcela eliminovat a zvýší konkurenceschopnost našeho vědec- kého centra v celosvětovém měřítku,“ řekl Kment. Ředitel RCPTM Radek Zbořil při- pomněl další z přínosů: „Komplexní systém elektronových mikroskopů v kombinaci s technikami UHV STM (rastrovací tunelové mikroskopie v režimu vysokého vakua) dává našemu centru ojedinělou možnost detailního studia atomární struktury nanomateriálů, stejně jako struktury, vlastností a reakcí molekul.“ RCPTM mikroskop pořídilo za 19,6 milionu korun v rámci projektu Nanotechnologie pro budoucnost (CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000754) rea- lizovaného ve výzvě Excelentní výzkum Operačního programu Věda, výzkum a vzdělávání.
Made with FlippingBook
RkJQdWJsaXNoZXIy Mjk3NzY=